T. W. Eagar等人對(duì)比了在Ar和He保護(hù)氣體下進(jìn)行熔化極氫弧焊過(guò)程中不同的熔滴過(guò)渡行為。在焊絲側(cè)面產(chǎn)生的電子聚集會(huì)增加焊絲側(cè)面的熔化,熔化金屬在重力,電磁力以及等離子流力的作用下聚集到焊絲端頭處,最后對(duì)液態(tài)的金屬形成壓縮作用,使焊絲端頭形成圓錐形,這就是所謂的錐形效應(yīng)。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)在Ar氣體保護(hù)下,與He氣體保護(hù)下相比,其錐形效應(yīng)更容易發(fā)生。這是因?yàn)樵?/FONT>Ar氣體保護(hù)下,在焊絲側(cè)面流出的電流密度更大造成的。