T. W. Eagar等人對比了在Ar和He保護氣體下進行熔化極氫弧焊過程中不同的熔滴過渡行為。在焊絲側(cè)面產(chǎn)生的電子聚集會增加焊絲側(cè)面的熔化,熔化金屬在重力,電磁力以及等離子流力的作用下聚集到焊絲端頭處,最后對液態(tài)的金屬形成壓縮作用,使焊絲端頭形成圓錐形,這就是所謂的錐形效應(yīng)。實驗發(fā)現(xiàn)在Ar氣體保護下,與He氣體保護下相比,其錐形效應(yīng)更容易發(fā)生。這是因為在Ar氣體保護下,在焊絲側(cè)面流出的電流密度更大造成的。